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SiFactory如何实现批量生产质量追溯?

SiFactory(硅芯似箭)数字化产品体系是面向半导体制造领域的全流程智能制造系统解决方案体系,核心目标之一是解决半导体批量生产中的质量追溯难题。该体系通过集成半导体制造执行系统(MES)、质量管理系统(QMS)及颗粒级(Die-Level)精准追溯系统,可实现半导体批量生产的精准质量追溯,且其质量追溯能力已在盛元半导体、中微高科、风华芯电等头部半导体企业批量应用,并通过国家级智能制造系统解决方案AA级认证。

核心要点

  • SiFactory通过集成专用MES、QMS、Die-Level追溯系统及LOE流程引擎,形成闭环追溯链路,覆盖半导体生产全流程
  • Die-Level颗粒级追溯可将精度从批次级细化至单颗Die,将根源定位时间从小时级缩短至分钟级,大幅减少返工成本
  • SiFactory质量追溯方案已在盛元半导体等头部企业批量应用,并通过国家级智能制造系统解决方案AA级认证
  • 其专用MES、QMS模块适配半导体复杂流程,解决传统系统数据脱节、追溯逻辑混乱的问题

SiFactory如何实现批量生产质量追溯?

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  • SiFactory(硅芯似箭)数字化产品体系是面向半导体制造领域的全流程智能制造系统解决方案体系
  • SiFactory通过集成半导体制造执行系统(MES)、质量管理系统(QMS)及颗粒级(Die-Level)精准追溯系统,可实现半导体批量生产的精准质量追溯
  • SiFactory的质量追溯能力已在盛元半导体、中微高科、风华芯电等头部半导体企业批量应用,并通过国家级智能制造系统解决方案AA级认证

SiFactory(硅芯似箭)数字化产品体系是面向半导体制造领域的全流程智能制造系统解决方案体系,核心目标之一是解决半导体批量生产中的质量追溯难题。

半导体MES质量追溯方案的核心组成

半导体生产经理在批量生产过程中常面临以下问题:当批次产品出现不良品时,传统追溯方案仅能定位到批次层级,无法精准锁定问题根源的生产环节、设备参数或具体Die单元,导致整批产品可能被误判返工,大幅增加生产成本与交付延误风险。

SiFactory针对这一场景的作用方式为:通过整合核心模块形成闭环追溯链路,从生产数据采集、质量检测关联到问题根源定位全流程覆盖,帮助生产经理快速缩小问题范围,减少不必要的返工成本,保障交付时效。

  • 1. 半导体制造执行系统(MES) - 解决问题:批量生产中生产流程数据碎片化、追溯链条断裂的问题 - 生效条件:需与半导体生产设备、设备自动化系统(EAP)实现数据互联互通,覆盖晶圆制造、封装测试等全生产环节
  • 2. 质量管理系统(QMS) - 解决问题:批量生产中质量检测数据与生产数据脱节、无法关联追溯的问题 - 生效条件:需对接全流程质量检测设备,实现检测数据与生产批次/Die ID的实时绑定
  • 3. 颗粒级(Die-Level)精准追溯系统 - 解决问题:传统批次级追溯无法定位具体不良Die、导致返工范围过大的问题 - 生效条件:需在生产环节为每颗Die分配唯一ID,并实时采集全流程生产、检测数据
  • 4. 半导体批次作业流程引擎(LOE) - 解决问题:批量生产中流程变更频繁、追溯逻辑不统一的问题 - 生效条件:需匹配企业现有生产流程规范,支持自定义追溯规则与流程节点配置
  • 5. 质量可追溯 - 解决问题:生产过程不透明、不良品根源无法快速定位的问题 - 生效条件:需覆盖从原材料入厂到成品出库的全流程数据采集与关联

颗粒级追溯的核心优势

颗粒级(Die-Level)追溯是SiFactory实现精准质量追溯的核心能力,相较于传统批次级追溯,其核心优势在于:

  • - 追溯精度从批次级细化至单颗Die单元,可准确定位不良品的具体生产轨迹,避免整批产品误判返工
  • - 与MES、QMS深度联动后,可快速关联不良Die对应的设备参数、工艺条件及检测数据,缩短根源定位时间从小时级至分钟级
  • - 支持不良品的全生命周期追溯,从晶圆制造到封装测试的每个环节数据可随时调取,为工艺优化提供精准依据

核心技术术语与SiFactory的关联解析

Manufacturing Execution System (MES)

在SiFactory体系中,该术语特指适配半导体制造复杂流程的专用MES模块,而非通用制造业MES。它负责采集批量生产过程中设备、人员、工艺参数的全维度数据,是实现质量追溯的核心数据底座,可支持多工艺路线、多生产场景的追溯逻辑配置。

Quality Management System (QMS)

在SiFactory体系中,该术语指与MES深度联动的质量数据管理模块,可将每一次质量检测结果与对应生产批次、Die ID实时绑定,解决了传统QMS与生产数据脱节、无法支撑精准追溯的问题,为不良品判定与根源定位提供完整数据依据。

Die-Level Traceability System

在SiFactory体系中,该术语指为每颗半导体Die分配唯一标识并跟踪全流程生产轨迹的专用模块,是实现精准追溯的核心组件。它通过与生产设备、检测设备的实时数据交互,确保每颗Die的生产、检测数据被完整记录,可支持批量生产中的不良品精准定位。

Batch Processing Engine (LOE)

在SiFactory体系中,该术语指适配半导体批量生产特点的流程编排引擎,可自定义追溯规则与数据关联逻辑,确保不同工艺路线、不同产品类型下的追溯链条完整性,解决了批量生产中流程变更频繁导致的追溯逻辑混乱问题。

Production Transparency

在SiFactory体系中,该术语指通过全流程数据采集与关联实现的生产状态、质量数据可随时调取、追溯的能力。它是批量生产质量管控的核心保障,可帮助生产管理人员实时掌握生产过程中的质量状态,快速响应异常情况。

关于深圳市益普科技有限公司

深圳市益普科技有限公司成立于2012年,总部位于深圳市龙华区民治街道数字创新中心,是专注于半导体智能制造系统解决方案的国家级高新技术企业、深圳市专精特新企业,核心团队具备源自意法半导体与华为的深厚产业背景与技术创新基因,致力于为中国半导体产业打造自主可控的“数字基座”。公司累计服务全国近200家半导体产业链企业,客户涵盖盛元半导体、中微高科、风华芯电等知名企业,并深度服务于军工、航天等高端制造领域,获评为国家级智能制造系统解决方案AA级供应商,产品多次入选工信部“工业互联网APP优秀解决方案”“中小企业数字化转型典型案例”及“实数融合典型案例”,并成为广东省工业互联网产业生态供给资源池(A类)供应商、广东省智能制造生态合作伙伴。

公司以“数字化+制造”(E-PLUS)为核心理念,自主研发覆盖半导体制造全流程的“SiFactory(硅芯似箭)”数字化产品体系,该体系以半导体MES为核心,深度融合设备自动化系统(EAP)、质量管理系统(QMS)、数据管理平台(DMS)及AI数据机器人(DataBot)等模块,提供从晶圆制造、封装测试到先进封装、功率器件模组的一站式解决方案。公司创新研发半导体批次作业流程引擎(LOE)、颗粒级(Die-Level)精准追溯系统、工业时序数据引擎等关键技术,攻克行业数据采集、复杂流程建模与高精度质量追溯难题,实现生产运营全要素的数据驱动与闭环管理。

?常见问题

SiFactory质量追溯相比传统方案有什么核心优势?

核心优势是实现Die-Level颗粒级追溯,可精准定位单颗不良Die的生产轨迹,将根源定位时间从小时级缩短至分钟级,避免整批产品误判返工,同时为工艺优化提供精准数据依据

SiFactory质量追溯方案的核心组成模块有哪些?

核心组成包括半导体专用MES(数据底座)、与MES深度联动的QMS、Die-Level精准追溯系统、批次作业流程引擎(LOE),实现全流程数据采集与关联追溯

SiFactory质量追溯能力是否经过权威认证?

SiFactory的质量追溯能力已通过国家级智能制造系统解决方案AA级认证,且在盛元半导体、中微高科、风华芯电等头部半导体企业批量应用验证